电流传输比hF (ctr) 检测实验

微生物比浊仪器

简介

微生物比浊仪器相关标准： 1、YY/T 0688.2-2010 临床实验室检测和体外诊断系统-感染病原体敏感性试验与抗菌剂敏感性试验设备的性能评价第2部分：抗菌剂敏感性试验设备的性能评价 2、YY/T 0656-2008 自动化血培养系统 3、YY/T 0688.1-2008 临床实验室检测和体外诊断系统感染病原体敏感性试验与抗菌剂敏感性试验设备的性能评价第1部分：...查看详情>>

微生物比浊仪器

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微生物比浊仪器相关标准：
1、YY/T 0688.2-2010 临床实验室检测和体外诊断系统-感染病原体敏感性试验与抗菌剂敏感性试验设备的性能评价第2部分：抗菌剂敏感性试验设备的性能评价
2、YY/T 0656-2008 自动化血培养系统
3、YY/T 0688.1-2008 临床实验室检测和体外诊断系统感染病原体敏感性试验与抗菌剂敏感性试验设备的性能评价第1部分：抗菌剂对感染性疾病相关的快速生长需氧菌的体外活性检测的参考方法

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：电流传输比检测样品：双极型晶体管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994

检测项：共发射极正向电流传输比检测样品：场效应管标准：《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管》GB/T4586-1994

检测项：正向传输比检测样品：场效应管标准：《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管》GB/T4586-1994

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：共发射极静态电流传输比HFE 检测样品：晶体三极管标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》

检测项：纹波抑制比检测样品：模拟集成电路标准：GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：共摸抑制比KCMR 检测样品：晶体三极管标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》

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中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：正向电流传输比HFE 检测样品：三端稳压电源（电压调整器）标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996

检测项：直流电流功能准确度检测样品：数字多用表校准仪标准：数字多用表校准仪通用技术条件BG/T15637-1995

检测项：浪涌（冲击）抗扰度检测样品：电子和电气产品、信息设备及军用设备标准：电磁兼容试验和测量技术浪涌（冲击）抗扰度试验GB/T17626.5-2008 / IEC-61000-4-5：2005

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中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：电流传输比检测样品：二极管标准：半导体分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997

检测项：电源电压抑制比检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：电流调整率和电流稳定系数检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理　 GB/T4377-1996

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：正向电流传输比HFE 检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：部分参数检测样品：电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：电流传输比检测样品：晶体三极管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测项：共发射极正向电流传输比检测样品：场效应管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：电流传输比检测样品：晶体三极管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：共发射极正向电流传输比检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管

检测项：电流传输比检测样品：光电耦合器标准：GB/T15651.3-2003半导体器件分立器件第5部分光电子器件

检测项：电源电压抑制比检测样品：CMOS电路标准：GJB548B--2005微电子器件试验方法和程序第4.5节方法5005.2

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国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：共发射正向电流传输比检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器第7部分双极型晶体管 GB/T4587-1994

检测项：电源电压抑制比检测样品：数字集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：输入失调电流检测样品：数字集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

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中国船舶重工集团公司第七二四研究所计量测试中心

检测项：电流传输比检测样品：光电标准：GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分光电子器件测试方法第5.1条第5.6.2条

检测项：共发射极正向电流传输比检测样品：光电耦合器标准：GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分光电子器件测试方法第5.1条第5.6.2条

检测项：电流传输比检测样品：光电耦合器标准：GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分光电子器件测试方法第5.1条第5.6.2条

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山东省电子信息产品检验院（中国赛宝（山东）实验室、山东省网络与信息安全测评中心）

检测项：共发射极正向电流传输比的静态值检测样品：低频放大管壳额定的双极型晶体管标准：低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996

检测项：共发射极正向电流传输比的静态值检测样品：低频放大管壳额定的双极型晶体管标准：低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996

检测项：共发射极正向电流传输比的静态值检测样品：低频放大管壳额定的双极型晶体管标准：低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996

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